因?yàn)閷I(yè)
所以領(lǐng)先
傳統(tǒng)晶圓清洗工藝是半導(dǎo)體制造中的核心環(huán)節(jié),主要分為濕法清洗和干法清洗兩大類,以下結(jié)合技術(shù)原理與流程進(jìn)行詳細(xì)說明:
RCA清洗是半導(dǎo)體行業(yè)沿用最廣的濕法清洗工藝,由美國無線電公司(RCA)開發(fā),包含以下關(guān)鍵步驟:
SC-1清洗(去除顆粒和有機(jī)物)
配方:氨水(NH?OH)、過氧化氫(H?O?)、去離子水(H?O),比例為1:1:5~1:2:7。
作用:通過氧化和腐蝕循環(huán)去除顆粒、有機(jī)物及部分金屬離子。溫度通??刂圃?0-80℃,處理時間5-10分鐘。
SC-2清洗(去除金屬離子)
配方:鹽酸(HCl)、過氧化氫(H?O?)、去離子水,比例為1:1:6~1:2:8。
作用:酸性環(huán)境溶解金屬雜質(zhì)(如Fe、Al等),溫度約70-80℃,處理時間5-15分鐘。
DHF清洗(去除氧化物)
配方:稀釋氫氟酸(HF:H?O=1:50~1:100)。
作用:去除自然氧化層(SiO?),但對硅基材有輕微腐蝕性,需嚴(yán)格控制濃度和時間(1-3分鐘)。
SPM清洗(硫酸-過氧化氫混合液):用于強(qiáng)效去除光刻膠殘留和有機(jī)物,溫度120-150℃,處理時間5-15分鐘。
APM清洗(氨水-過氧化氫混合液):針對顆粒污染,通過靜電排斥和化學(xué)分解去除微小顆粒。
原理:利用20-40kHz超聲波產(chǎn)生的空化效應(yīng),剝離表面附著的顆粒。
局限:高頻超聲波可能損傷納米級結(jié)構(gòu),需配合低濃度化學(xué)試劑使用。
特點(diǎn):采用0.8-2MHz高頻聲波,減少對晶圓表面的物理沖擊,適合高精度清洗。
等離子體清洗
原理:在真空環(huán)境中通過射頻激發(fā)氣體(如O?、Ar)生成等離子體,分解有機(jī)物和金屬污染物。
優(yōu)勢:無液體殘留,適合深槽結(jié)構(gòu)清洗,但需避免過高的能量損傷晶圓。
超臨界二氧化碳清洗
應(yīng)用:利用超臨界CO?的滲透性和溶解力,清洗深寬比大于10:1的納米結(jié)構(gòu),環(huán)保且無表面張力殘留。
Piranha清洗(硫酸-過氧化氫混合)
作用:強(qiáng)氧化性去除有機(jī)物和光刻膠殘留,但腐蝕性強(qiáng),需嚴(yán)格防護(hù)。
臭氧清洗
原理:紫外線激發(fā)臭氧分解有機(jī)物,常作為濕法清洗的輔助步驟。
RCA工藝缺點(diǎn):化學(xué)品消耗量大(如氨水、鹽酸),廢水處理成本高。
濕法清洗限制:對高深寬比結(jié)構(gòu)清洗效果有限,易產(chǎn)生廢液污染。
干法清洗成本:設(shè)備投資高,工藝參數(shù)控制復(fù)雜。