因?yàn)閷I(yè)
所以領(lǐng)先
以下是基于晶圓到晶圓(Wafer-to-Wafer, W2W)鍵合技術(shù)的垂直堆疊芯片工藝封裝流程及其應(yīng)用分析:
晶圓預(yù)處理與清洗
對(duì)晶圓表面進(jìn)行化學(xué)清洗(如RCA清洗)、蝕刻去除氧化物,并通過濕法/干法工藝清除雜質(zhì),確保表面原子級(jí)平整。
表面活化處理(如等離子體處理)以增強(qiáng)鍵合界面反應(yīng)活性。
關(guān)鍵工藝:化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)
采用CMP技術(shù)將晶圓表面粗糙度控制在0.5nm以內(nèi),確保鍵合均勻性。銅焊盤需保持1nm以下粗糙度以實(shí)現(xiàn)高精度接觸。
CMP后需優(yōu)化晶圓邊緣平整度,避免減薄或鍵合過程中破裂。
對(duì)準(zhǔn)與鍵合
直接鍵合:硅片或玻璃基板在高溫(700–1100°C)下退火形成共價(jià)鍵。
混合鍵合(Hybrid Bonding):結(jié)合銅-銅直接互連與電介質(zhì)鍵合,實(shí)現(xiàn)電氣和機(jī)械雙重連接,適用于亞微米級(jí)互連間距(如400nm)。
利用高精度對(duì)準(zhǔn)設(shè)備(精度可達(dá)1μm以下)將兩片晶圓對(duì)準(zhǔn),通過范德華力或靜電引力實(shí)現(xiàn)臨時(shí)接觸。
鍵合方式:
退火與界面強(qiáng)化
高溫退火(200–500°C)促進(jìn)銅原子擴(kuò)散,消除界面缺陷,增強(qiáng)鍵合強(qiáng)度。
晶圓減薄與互聯(lián)
通過研磨、刻蝕等方式將晶圓減薄至50μm以下,暴露硅通孔(TSV)或銅柱,形成垂直互聯(lián)通道。
采用銅芯焊球(CCSBs)或再分布層(RDL)實(shí)現(xiàn)多層堆疊的信號(hào)傳輸。
晶圓邊緣缺陷控制
邊緣不均勻性會(huì)導(dǎo)致鍵合空洞,需通過邊緣沉積、斜面蝕刻等技術(shù)優(yōu)化。
對(duì)準(zhǔn)精度與表面潔凈度
納米級(jí)顆粒即可引發(fā)鍵合失敗,需在ISO 3級(jí)以上潔凈環(huán)境下操作。
熱應(yīng)力與翹曲管理
材料熱膨脹系數(shù)需匹配,結(jié)合臨時(shí)鍵合載片技術(shù)減少加工應(yīng)力。
邏輯與內(nèi)存異構(gòu)集成
通過垂直堆疊實(shí)現(xiàn)邏輯芯片與高帶寬內(nèi)存(HBM)的直接互連,縮短信號(hào)路徑,降低延遲(如AI芯片、移動(dòng)處理器)。
3D NAND存儲(chǔ)器件
多層存儲(chǔ)單元與CMOS外圍電路的混合鍵合,提升存儲(chǔ)密度與訪問速度。
MEMS/傳感器封裝
硅-玻璃陽極鍵合用于壓力傳感器、慣性器件的氣密封裝,提升可靠性。
先進(jìn)封裝中介層
基于RDL的扇出型封裝(FOWLP)結(jié)合W2W鍵合,用于高性能移動(dòng)處理器與射頻模塊集成。
互連密度提升:從1μm間距向100nm以下演進(jìn),支持更高帶寬需求。
材料創(chuàng)新:采用SiCN替代SiO?作為電介質(zhì),增強(qiáng)鍵合界面熱穩(wěn)定性。
異構(gòu)集成擴(kuò)展:結(jié)合芯片到晶圓(D2W)技術(shù),實(shí)現(xiàn)不同制程芯片的混合堆疊。
先進(jìn)封裝芯片清洗劑選擇:
水基清洗的工藝和設(shè)備配置選擇對(duì)清洗精密器件尤其重要,一旦選定,就會(huì)作為一個(gè)長(zhǎng)期的使用和運(yùn)行方式。水基清洗劑必須滿足清洗、漂洗、干燥的全工藝流程。
污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環(huán)境中的濕氣,通電后發(fā)生電化學(xué)遷移,形成樹枝狀結(jié)構(gòu)體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長(zhǎng)枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內(nèi)的浮點(diǎn)、灰塵、塵埃等,這些污染物會(huì)導(dǎo)致焊點(diǎn)質(zhì)量降低、焊接時(shí)焊點(diǎn)拉尖、產(chǎn)生氣孔、短路等等多種不良現(xiàn)象。
這么多污染物,到底哪些才是最備受關(guān)注的呢?助焊劑或錫膏普遍應(yīng)用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤(rùn)濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質(zhì)在所有污染物中的占據(jù)主導(dǎo),從產(chǎn)品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產(chǎn)品質(zhì)量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質(zhì)引發(fā)接觸電阻增大,嚴(yán)重者導(dǎo)致開路失效,因此焊后必須進(jìn)行嚴(yán)格的清洗,才能保障電路板的質(zhì)量。
合明科技研發(fā)的水基清洗劑配合合適的清洗工藝能為芯片封裝前提供潔凈的界面條件。
合明科技運(yùn)用自身原創(chuàng)的產(chǎn)品技術(shù),滿足芯片封裝工藝制程清洗的高難度技術(shù)要求,打破國(guó)外廠商在行業(yè)中的壟斷地位,為芯片封裝材料全面國(guó)產(chǎn)自主提供強(qiáng)有力的支持。
推薦使用合明科技水基清洗劑產(chǎn)品。